SYNC レーザ回折・散乱法と動的画像解析法の両立

SYNCは3本のレーザと2つの検出器を効果的に配置した光学系により、粒子からの散乱光を0～165度の広角度で連続的に検出します。 湿式または乾式試料供給機で分散されたサンプルが測定部であるサンプルセルへ移送され、セル内でレーザ光を照射されます。小粒子は広い角度で光を散乱し、大粒子は狭い角度で光を散乱します。散乱光は測定全体を通して連続的に集光されます。得られた散乱光強度のパターンから粒子径分布が求められます。 さまざまな粒子特性、例えば粒子形状（球形/非球形）や光学特性（光透過性の有無、反射/吸収）に応じた独自のアルゴリズムにより、SYNCは多種多様なアプリケーションの材料に対して高いパフォーマンスを示します。

新たに搭載された高速ストロボ光源と高解像度カメラを使い粒子を撮像します。得られた粒子画像を解析し、個々の粒子に対して粒子径を含めた数十以上の粒子形状パラメータを求めます。散布図や各種画像フィルター機能、粒子の検索機能を駆使することで、光散乱情報では得られなかった粒子特性を評価可能です。 また個々の粒子を撮像しているため、見過ごされやすい少量の異物検出を得意とします。これは製造工程における問題を迅速に特定することに役立ちます。

SYNCはレーザ回折・散乱式と動的画像解析式の２つの測定技術を1台の装置で両立させました。 測定部では、あるタイミングではレーザ光を照射して発生した散乱光を検出し、またあるタイミングでは高速ストロボ光を照射して動的画像を取得します。これらを高速に切り替えることで、同じ粒子を同じ分散状態で同じサンプルセル内の同じポイントで計測することを実現させました。 レーザ回折・散乱法から得られる幅広い粒子径範囲における測定結果と動的画像解析式の精密な形状情報、両者の測定結果を比較・解析することで、新たな側面から粉粒体を評価することを可能にしました。