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膜・フィルター評価:分離膜欠陥構造解析装置 Porometer nano

分離膜欠陥構造解析装置

分離膜への水・ヘキサン・四塩化炭素の蒸気の毛管凝縮(Kelvin式)を利用し、キャリヤーガスの透過量からゼオライト膜などの細孔構造を評価します。

詳細

  • ・コンピュータによる自動測定
  • ・水銀を使用しない常圧における非破壊測定
  • ・透過量・細孔分布の測定
  • ・ゼオライト分離膜、フィルター、中空糸などの測定が可能

仕様

Porometer nano

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