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2015年08月07日

JASIS 2015(第3回)出展のご案内(2015年9月2日~4日)

こちらのイベントは終了しました。誠にありがとうございました。(2015年9月4日)

拝啓 貴社ますますご盛栄のこととお慶び申し上げます。毎々格別のご愛顧を賜り、厚く御礼申し上げます。

さて、この度首記展示会に出展する運びとなりましたので、ここにご案内申し上げます。

当社ブースでは、粒子径分布測定装置をはじめ、研究開発・品質管理等に役立つ製品をラインナップし皆様のお越しをお待ちしております。是非、当社ブースへお越しいただき、最新の技術をご覧いただければ幸いに存じます。

ご多忙のところ恐縮ではございますが、何卒、ご来臨賜りますようご案内申し上げます。

敬具

開催概要

会期|2015年9月2日(水)~4日(金) 開催時間|10:00~17:00
会場|幕張メッセ 当社ブース| 7A-702 (ホール7)
事前来場登録URL|https://www.jasis.jp/regist/jp/pre_reg_landing.php

主な出展内容

  • 粒子径分布/ゼータ電位/分子量測定装置ナノトラックNanotrac Wave
  • 【NEW】粒子径分布測定装置ナノトラックNANO-flex
  • 粒子径分布測定装置マイクロトラックMT3000Ⅱシリーズ
  • 【NEW】ゼータ電位・粒子径分布・個数カウント装置 ZetaView
  • 【NEW】滴定機能付き流動電位測定装置Stabino®
  • 粒子画像解析装置マイクロトラックPartAn SI
  • 【NEW】多検体BET比表面積測定装置BELSORP-MR6
  • 高精度ガス/蒸気吸着量測定装置BELSORP-max
  • 触媒分析測定装置BELCATⅡ
  • 自動水銀ポロシメーターPascalシリーズ
  • 【NEW】自動真密度測定装置BELPycno
  • アプリケーション測定例(原薬・ナノ材料・二次電池材料)

新技術説明会 (聴講無料)

日時:9月3日(木) 14:30~14:55 会場:A-4アパホテル&リゾート<東京ベイ幕張>
『真密度、比表面積、ナノ~ミクロンオーダーの細孔測定、各種粉体評価新製品のご紹介』
新製品、真密度測定装置、BET1点法比表面積測定装置、水銀ポロシメーターを中心にご紹介します。
発表者:平城 敬司(営業部 名古屋営業所 営業チーム)

日時:9月4日(金) 15:10~15:35 会場:N-1ホテルニューオータニ幕張
『粉粒体物性評価方法(粒子径、粒子形状、分散性)のご紹介』
粒子径分布(レーザ散乱)、粒子形状(画像解析)、分散性(流動電位)の評価方法と測定例をご紹介します。
発表者:高野 正雄(営業部 東京営業所 営業第1チーム リーダー)

 

出展に関するお問合せ

回答期限を過ぎましたので、アンケートは終了致しました。