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2015年10月28日

日本テクノセンター主催『粉粒体の物性評価・測定技術の基礎とその活用法〜デモ付〜』 のご案内(2015年11月10日)

日本テクノセンター主催セミナーにて講義・デモを致します。

『粉粒体の物性評価・測定技術の基礎とその活用法 〜デモ付〜』

〜粒子径・粒子形状・分散性・比表面積・細孔径分布の評価と研究開発・品質管理への活用法、実機による粒子径分布測定デモ〜

公式ホームページ・セミナー申込み

http://www.j-techno.co.jp/seminar/ID53IBSAI35

開催概要

日時|2015年11月10日(火) 10:30 ~ 17:30
場所|【東京】日本テクノセンター研修室

講義・デモンストレーション

1. 粉粒体物性評価の基礎

  (1). ものづくりと粉粒体物性評価の関係
  (2). 粒子径分布の表記方法
  (3). 粉粒体の代表粒子径と表現
  (4). 各粉粒体物性評価装置の概略と特徴

2. 粒子径分布測定の評価と応用
  (1). レーザ回折・散乱法による測定技術
  (2). 動的光散乱法による測定技術
  (3). 画像解析法による測定技術

3. 比表面積・細孔径分布の測定の評価と応用
  (1). 比表面積測定技術
  (2). 細孔径分布測定

4. ゼータ電位の評価と応用
  (1). ゼータ電位測定の概要
  (2). 電気泳動法の特徴
  (3). 流動電位法の特徴
  (4). ゼータ電位と粒子径分布の関係

5. アプリケーションの紹介
  (1). 測定結果の考察
  (2). 研究開発への活用
  (3). 品質向上への活用
 ※ここの「アプリケーション」は電子材料、化粧品、食品、電池材料、製剤などの粉粒体を指します

6. 物性評価測定における試料の前処理と留意点
  (1). 試料に適した分散媒
  (2). 測定に考慮する条件

7. 粉体物性評価実習
  (1). レーザ回折・散乱法による粒子径分布測定
  (2). 動的光散乱法による粒子径分布測定