• HOME
  • ニュース・イベント
  • nano tech 2016 第15回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 出展のご案内(2016年1月27日~29日)

ニュース・イベントNews & Events

2015年12月17日

nano tech 2016 第15回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 出展のご案内(2016年1月27日~29日)

こちらのイベントは終了しました。誠にありがとうございました。(2016年1月29日)

拝啓 

貴社ますますご盛栄のこととお慶び申し上げます。 平素格別のご愛顧を賜り、厚く御礼申し上げます。
さて、本年も首記展示会に出展する運びとなりましたので、ここにご案内申し上げます。
当社ブースでは、研究開発・品質管理等に役立つナノ粒子物性評価装置をラインナップし、
皆様のお越しをお待ちしております。 ご多忙のところ恐縮ではございますが、何卒、ご来臨賜りますようご案内申し上げます。

敬具

開催概要

会期|2016年1月27日(水)~29日(金) 開催時間|10:00~17:00
会場|東京ビッグサイト 当社ブース| 6G-11(東6ホール) 
公式HP|http://www.nanotechexpo.jp/main/index.html
※本展示会は有料(3,000円)となっておりますので、招待券を必ずお持ち下さい

 

 

 

主な出展内容

  • 粒子径分布/ゼータ電位/分子量測定装置ナノトラックNanotarc Wave
  • 粒子径分布測定装置ナノトラックNANO-flex
  • 粒子径分布測定装置マイクロトラックMT3000Ⅱシリーズ
  • 粒子画像解析装置マイクロトラックPartAn SI
  • ゼータ電位・粒子径分布・個数カウント装置ZetaView
  • 滴定機能付き流動電位測定装置Stabino®
  • 多検体BET比表面積測定装置BELSORP-MR6
  • 高精度ガス/蒸気吸着量測定装置BELSORP-max
  • 【NEW】真密度測定装置BELPycno
  • アプリケーション測定例(ナノ材料・モノクローナル抗体・エキソソーム等)

※出展製品・出展内容は当社都合により変更となる場合がございます。

シーズ&ニーズセミナー (聴講無料)

日時:1月27日(水)13:15~14:00 会場:C会場
『希薄系/極少量から濃厚系スラリーさらに粉体表面特性まで 幅広い粉粒体の測定事例紹介
 ~対象アプリケーション:バイオ医薬品、DDS、二次電池、インク・塗料、電子部品~

   発表者:谷 一樹(営業部 東京営業所 営業第1チーム)

粉粒体は全てのモノづくりの基本であり、最大限に機能を発揮するためには、大きさ、表面状態、形状等の特性の完全制御が大切です。物性評価装置は用途毎に異なる試料の様々な状態(*1)に適切に対応しなければなりません。
今回のセミナーは、バイオ医薬品、DDS、二次電池、インク・顔料、電子部品等の測定例とそれらの最適な物性評価方式および、粉粒体の分析機器総合メーカーとして幅広い製品ラインナップを擁する当社の製品群をご紹介します。これら最新の粉粒体物性評価装置群は、試料の濃度や粒子径に左右されないスラリー分散性(流動電位/ゼータ電位)評価装置、極少試料でナノ粒子の測定が可能な粒子径測定装置、三次元画像解析装置、比表面積/ 細孔分布測定装置等から構成されています。 
               (*1)湿式/乾式、低濃度(ppmオーダ)、高濃度(数十wt%)、極小量(μℓオーダ)

出展に関するお問合せ

 

回答期限を過ぎましたので、アンケートは終了致しました。