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国際粉体工業展東京2016出展のご案内(2016年11月30日~12月2日)

2016年09月20日

こちらのイベントは終了しました。誠にありがとうございました。(2016年12月2日)

拝啓 貴社ますますご盛栄のこととお慶び申し上げます。毎々格別のご愛顧を賜り、厚く御礼申し上げます。

さて、この度首記展示会に出展する運びとなりましたので、ここにご案内申し上げます。

当社ブースでは、粒子径分布測定装置をはじめ、研究開発・品質管理等に役立つ製品をラインナップし
皆様のお越しをお待ちしております。是非、当社ブースへお越しいただき、最新の技術をご覧いただければ幸いに存じます。

ご多忙のところ恐縮ではございますが、何卒、ご来臨賜りますようご案内申し上げます。

敬具

開催概要

会期|2016年11月30日(水)~12月2日(金) 
開催時間|10:00~18:00 ※最終日のみ17:00終了
会場|東京ビッグサイト
当社ブース| No.M-10(東2ホール)  計装・測定、ラボ機器ゾーン
※本展示会は有料(1,000円)となっておりますので、招待券を必ずお持ち下さい                  

●全体会場図
●全体会場図

 

 

主な出展内容

  • 粒子径分布測定装置マイクロトラックMT3000Ⅱシリーズ
    ●イメージ
    ●イメージ
  • 粒子径分布/ゼータ電位測定装置ナノトラックNanotrac WaveⅡシリーズ
  • スプレー粒子径分布測定装置 エアロトラックLDSA-SPR
  • 粒子形状評価・粒子径分布測定装置マイクロトラックPartAn SI
  • 滴定機能付き流動電位測定装置Stabino®
  • ゼータ電位・粒子径分布・個数カウント装置 ZetaView
  • 【初出展・NEW】BET比表面積測定装置BELSORP-MR1
  • 多検体BET比表面積測定装置BELSORP-MR6
  • 高精度ガス/蒸気吸着量測定装置BELSORP-maxⅡ
  • 真密度測定装置BELPycno
  • アプリケーション測定例(ナノ材料・3Dプリンタの材料評価・カーボンブラック等)

                                                                                               出展製品・出展内容は当社都合により変更となる場合がございます。

製品技術説明会 (聴講無料)

日時:11月30日(水)13:15~13:45 会場:Aルーム
『世界初の機能を搭載した新型高精度ガス吸着量測定装置他、粉粒体評価装置のご紹介』
比表面積/細孔分布測定装置の最新技術、および、比表面積、真密度、粒子径分布、スラリー分散性等の
各種粉粒体物性評価装置をご紹介します。
藁科 訓(営業部 東京営業所 営業チーム)

日時:12月1日(木)13:15~13:45 会場:Aルーム
『最新の粉粒体物性評価装置のご紹介(粒子径分布、粒子形状、分散性』
レーザーを使用した粒子径分布測定、画像解析式粒子形状測定、スラリー分散性評価装置等、
粉粒体物性評価装置をご紹介します。
小原 滋(営業部 東京営業所 営業チーム)

 

出展に関するお問合せ

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