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JASIS 2016出展のご案内(2016年9月7日~9日)

2016年07月11日

こちらのイベントは終了しました。誠にありがとうございました。(2016年9月9日)

拝啓 貴社ますますご盛栄のこととお慶び申し上げます。毎々格別のご愛顧を賜り、厚く御礼申し上げます。
さて、この度首記展示会に出展する運びとなりましたので、ここにご案内申し上げます。
当社ブースでは新製品「高精度ガス/蒸気吸着量測定装置BELSORP-maxⅡ」の初出展ほか、
研究開発・品質管理等に役立つ粉粒体評価測定装置をラインナップし、皆様のお越しをお待ちしております。
是非、当社ブースへお越しいただき、最新の技術をご覧いただければ幸いに存じます。
ご多忙のところ恐縮ではございますが、何卒、ご来臨賜りますようご案内申し上げます。

 

 

敬具

開催概要

会期|2016年9月7日(水)~9日(金) 開催時間|10:00~17:00JASIS206_ブース地図
会場|幕張メッセ国際会議場  当社ブース| 7A-801 (ホール7)         
事前来場登録URL|https://www.jasis.jp/regist/jp/pre_reg_landing.php

 

主な出展内容

NEW・初出展高精度ガス/蒸気吸着量測定装置BELSORP-maxⅡ
NEW試料前処理装置BELPREP-vacⅢ
・多検体BET比表面積測定装置BELSORP-MR6
・真密度測定装置BELPycno
・触媒分析装置BELCATⅡ
・オンラインガス分析計BELMass
・粒子径分布/ゼータ電位測定装置Nanotrac Waveシリーズ
・粒子径分布測定装置マイクロトラックMT3000Ⅱシリーズ
・粒子形状評価装置マイクロトラックPartAn SI
・流動電位測定装置Stabino®
・アプリケーション測定例(ナノ材料・二次電池材料・カーボンブラック)

※イメージ
※イメージ

 

新技術説明会 (聴講無料)

日時:9月7日(水) 10:30~10:55 会場:A-5 <東京ベイ幕張2F>
『最新の粉粒体物性評価方法のご紹介(粒子径分布、粒子形状、分散性等)』
レーザーを使用した粒子径分布測定、画像解析式粒子形状評価、分散性評価の原理と測定例をご紹介します。
発表:鬼沢 康夫(営業部 東京営業所 営業チーム)

日時:9月8日(木) 10:30~10:55 会場:N-2 <ホテルニューオータニ幕張2F>
『世界初の機能を搭載!新型高精度ガス蒸気吸着量測定装置他、粉体評価装置のご紹介』
定容量法による比表面積・細孔分布他、真密度、粒子径分布、分散性等の各種粉粒体評価方法についてご紹介します。
発表:中野 宗治(営業部 東京営業所 営業チーム リーダー)

 

出展に関するお問合せ



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